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AOI检测仪/X光/ICT相互作用

作者:admin 浏览量:35 来源:本站 时间:2024-08-02 09:15:13

信息摘要:

AOI检测仪/X光/ICT相互作用

AOI检测仪/X/ICT相互作用

  超过5200ICT机器节点限制的PCBA是不可能使用传统的针床夹具ICT测试的。而且,我们没有装配可在在线测试机上完全测试。通常,10~15%的板的核心电路不能测试。例如,旁路电容和ASIC元件的电源与接地引脚对DC级的丈量是不可见的。由于这些节点不能用一般的ICT测试,我们使用了X射线分层工艺。在使用X光之前,大板上的覆盖率在60~70%之间。在测试丈量中包括X光提供99%的测试覆盖。对于通过X光系统确认的焊点完整性的元件,我们假设遵循了前面的工序保证板上贴装正确的元件。



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